Sequential analysis : tests and confidence intervals / David Siegmund

資料形態:
図書
形態:
xi, 272 p. ; 25 cm
出版情報:
New York : Springer-Verlag, c1985
シリーズ名:
Springer series in statistics <BA00018600>
書誌ID:
BA00302320
子書誌情報
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所蔵情報
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