Seventh annual IEEE International Conference on Wafer Scale Integration : San Francisco, California, USA : 1995 proceedings / sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Components, Packaging, & Manufacturing Technology Society ; edited by Stuart Tewksbury and Glenn Chapman

資料形態:
図書
形態:
ix, 382 p. ; 24 cm
出版情報:
Piscataway, N.J. : IEEE Computer Society, c1995
書誌ID:
BA25644346
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