VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

資料形態:
図書
形態:
xxx, 777 p. ; 25 cm
出版情報:
San Francisco ; Tokyo : M. Kaufmann Pub./Elsevier, c2006
シリーズ名:
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / series editor, Wayne Wolf <BA52674984>
書誌ID:
BA77850034
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