Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy / Bert Voigtländer

資料形態:
図書
形態:
xv, 382 p. ; 25 cm
出版情報:
Berlin : Springer, c2015
シリーズ名:
Nanoscience and technology <BA33734375>
書誌ID:
BB18388684
子書誌情報
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