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走査トンネル顕微鏡(STM)を用いた弾道電子放出顕微(BEEM)測定法の実現とその応用 / 中村公彦

資料形態:
学位論文
出版情報:
福岡 : 福岡大学, 20040322
シリーズ名:
工学研究科電子工学専攻 <KT40041712>
書誌ID:
KT40050776
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所蔵情報
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