Electron beam-specimen interactions and simulation methods in microscopy / Budhika G. Mendis

資料形態:
図書
形態:
x, 279 p. ; 24 cm
出版情報:
Hoboken, N.J. : J. Wiley, 2018
シリーズ名:
Royal Microscopical Society--John Wiley Series / Susan Brooks, series editor <KT40247386>
書誌ID:
KT40247390
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